Menu Close

Hình thành con chip điện tử (3)

PHẦN IV (tiếp theo)

8. Thiết lập mô hình thử nghiệm tự động

Kỹ sư thiết kế IC sử dụng nhu liệu để lập ra mô hình thử nghiệm tự động (Automatic test pattern generation) bao gồm các test vectors để kỹ sư thử nghiệm dùng trong lập trình thử nghiệm die và IC (probe & final test programs). Probe test program là lập trình dùng để thử nghiệm mỗi die trong một wafer. Mỗi wafer kết hợp hàng chục, hàng trăm, hàng chục ngàn … dies. Die có thể được dùng trực tiếp trong đồ điện tử hay được gắn trong một khung hợp chất hóa học (package) trước khi gắn dùng trong các máy móc điện tử.

alt

Lập trình thử nghiệm die và IC

9. Thiết kế mô hình sản xuất

Giai đoạn này bao gồm các phần thiết kế các mạch điện sản xuất die và chip điện tử. Lựa chọn fab (cơ sở chế tạo die) và AT Site (cơ sở hoàn tất con chip) sao cho hợp với kỹ thuật thiết kế và có máy móc thử nghiệm khi die và con chip hoàn thành.    

  
10. Thiết lập các mặt dữ liệu

Sau khi hoàn tất việc layout các tầng lớp mạch điện, chuyên viên thiết kế chuyển họa đồ layout đến công ty chuyên chế tạo mặt dữ liệu (mask, recticle) để đặt hàng. Các mask sẽ được gởi về fab để chế tạo die.

11. Chế tạo wafer  

Tùy theo kích lớn nhỏ và kỹ thuật tân tiến cùng độ lớn của wafer, wafer có thể tích tụ nhiều hay ít die trong một wafer. Độ dầy (tính bằng 1 mil = 0.001 inch) của wafer hay die cũng phụ thuộc vào package được dùng cho con chip.

alt

Wafer và die

12. Xét nghiệm Die

Test Engineer viết lập trình thử nghiệm (probe test program) và sử dụng máy thử nghiệm (ATE – Automatic Test Equipment) như các máy xét nghiệm (tester) hiệu Teradyne, Polaris, Advantage… để kiểm soát các mạch điện bị hở, tính bền chắc, các tính năng của con chip ở nhiệt độ cao thấp, môi trường động tĩnh khô ướt…

Các giai đoạn kế tiếp 13 – Đặt ghép die mô hình sản xuất  14 – Thử nghiệm tính năng con chip  15 – Lập bản tính năng  16 – Phương thức sản xuất  17 – Phân tích độ bền 18 – Phân tích các trường hợp chip hư  – sẽ được đăng tiếp vào số báo TRẺ tuần tới.

alt

Máy xét nghiệm die

Chú thích: Quý độc giả có thể xem PHẦN I, II & III ở website http://baotreonline.com/Doi-song/Ban-co-biet/hinh-thanh-con-chip-in-t.html.

 (còn tiếp)